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簡(jiǎn)要描述：一般的測(cè)試方法，由于探頭的“升離效應(yīng)"導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。而CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀將新的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243，使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的度。儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用，將底材效應(yīng)小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)。便攜式、無損測(cè)量各種金屬鍍層
產(chǎn)品型號(hào)：CMI243 更新時(shí)間：2023-11-21瀏覽次數(shù)：1971產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀 CMI243是一款靈便易用的儀器，為金屬表面處理者設(shè)計(jì)，配置的單探頭可測(cè)量鐵質(zhì)底材上金屬鍍層。在小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上進(jìn)行測(cè)量的能力，使其成為緊固件行業(yè)應(yīng)用的工具。 采用基于相位電渦流技術(shù)，CMI243手持式測(cè)厚儀以友好的控制準(zhǔn)確、精密的測(cè)量 測(cè)量技術(shù)：一般的測(cè)試方法，例如一般測(cè)厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式，由于探頭的“升離效應(yīng)”導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。而CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀將新的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243，使其達(dá)到了±3%以內(nèi)（對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的度。儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用，將底材效應(yīng)小化，使得測(cè)量精準(zhǔn)。另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
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